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會(huì)議時(shí)間

2023年06月01日 19:00 - 20:00

會(huì)議簡(jiǎn)介

隨著汽車 “新四化”（電動(dòng)化、網(wǎng)聯(lián)化、智能化、共享化）的趨勢(shì)不斷加速，半導(dǎo)體在汽車中的占比越來(lái)越高。據(jù)悉，一輛新能源汽車所需的芯片多達(dá)1000顆以上。隨著汽車芯片種類和數(shù)量應(yīng)用的增長(zhǎng)，也帶來(lái)了一個(gè)隱憂，那就是，任何一個(gè)芯片的失效，對(duì)一臺(tái)車來(lái)說(shuō)很可能造成致命性損傷。想要打造一款零缺陷的汽車芯片，需要從芯片源頭的設(shè)計(jì)開(kāi)始，到后面的制造、封測(cè)進(jìn)行全方位的覆蓋才行。

『工欲善其事，必先利其器』，西門子 EDA 針對(duì)車規(guī)芯片的全面解決方案，已獲得 ISO26262 認(rèn)證。針對(duì)車規(guī)芯片的開(kāi)發(fā)，從代碼的編寫，到全芯片的全面語(yǔ)法語(yǔ)義的檢查，到模塊的功能驗(yàn)證檢查，X 態(tài)的檢查，再到跨時(shí)鐘域和跨復(fù)位域的亞穩(wěn)態(tài)檢查，提供了滿足 ISO26262 要求的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)檢查的解決方案，并能夠進(jìn)一步針對(duì)網(wǎng)表進(jìn)行跨時(shí)鐘域、時(shí)鐘樹(shù)及復(fù)位樹(shù)路徑和上的毛刺檢測(cè)，有效避免系統(tǒng)性失效的問(wèn)題。在此基礎(chǔ)上，進(jìn)一步針對(duì)隨機(jī)性失效的問(wèn)題進(jìn)行功能安全分析和優(yōu)化，安全機(jī)制插入和故障注入仿真等工作，從而以更高的效率將功能安全落地實(shí)施，輕松玩轉(zhuǎn) ISO26262。

嘉賓介紹

李一凡，Tessent 產(chǎn)品經(jīng)理，西門子 EDA

Tessent 產(chǎn)品經(jīng)理，負(fù)責(zé) Tessent 產(chǎn)品以及 DFT 解決方案的市場(chǎng)推廣。有超過(guò)10年芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證，DFT 方案實(shí)現(xiàn)和工具培訓(xùn)的經(jīng)驗(yàn)。從 DFT 方案的設(shè)計(jì)落實(shí)，仿真驗(yàn)證，到回片之后的測(cè)試診斷。全方位地為國(guó)內(nèi)外客戶芯片測(cè)試保駕護(hù)航。

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